Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse (32202) - Seminar / Kurs von Technische Akademie Esslingen - TAE

Arbeitsverfahren und Einsatzmöglichkeiten

Inhalte

Das Rasterelektronenmikroskop erweist sich als vielseitiges Gerät für die morphologische und analytische Untersuchung von Oberflächen. Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten der modernen Rasterelektronenmikroskopie (REM) bei der Abbildung von Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse kennen. Inhalt des Seminars: > Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie > Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops > Signale und Kontrastarten in der Rasterelektronenmikroskopie > Detektorstrategien > Vergleich verschiedener elektronenstrahlerzeugender Systeme > Präparation - Überblick über die Präparation von Proben > Abbildung von Oberflächen und Vermeidung von Abbildungsartefakten > Röntgenmikroanalyse im Rasterelektronenmikroskop > Einführung in die EBSD > Methoden zur Partikelanalyse > Elektronenmikroskopie an der Materialprüfungsanstalt Universität Stuttgart (MPA) > Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie: REM bei einem Probenkammervakuum bis zu 3000 Pascal > Kathodolumineszenz > alternative Rastermethoden > Beurteilung von Schäden an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen mit der Rasterelektronenmikroskopie > Beschichtung elektrisch nicht leitender Proben

SG-Seminar-Nr.: 1495430

Anbieter-Seminar-Nr.: 32202

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